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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號 | 產(chǎn)品描述 |
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紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系，紅外樹(shù)脂等材料對可見(jiàn)光不透過(guò)，這樣的樣品殘余應力評估很難實(shí)現，為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測量?jì)x，采用850nm或940nm波長(cháng)，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。 -
應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會(huì )造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產(chǎn)過(guò)程中*的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，并能高速完成各項測量。 -
注塑件內應力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。 -
內應力測量?jì)xPA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
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雙折射測量?jì)xPA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。 -
雙折射測量?jì)xPA-Micro操作簡(jiǎn)單，測量速度可以快到3秒。更直觀(guān)的全面讀取數據，無(wú)遺漏數據點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡(jiǎn)單，不含旋轉光學(xué)濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。